探針卡是半導體晶圓測試中被測芯片和測試機之間的接口，被認為是測試設備的“指尖”，是晶圓測試的核心耗材。MEMS 探針卡憑借高密度細間距的陣列排布、滿足整個晶圓同測、可測試超高頻、吞吐量大、測試可靠性高等優勢，逐漸成為探針卡的主流應用。
MEMS探針卡優勢
資料來源：共研產業咨詢（共研網）
MEMS探針卡市場規模整體快速成長、占比越來越大。隨著疊加 Chiplet 要求晶圓測試由抽檢變成全檢對前道探針帶來的增量需求，共同驅動探針卡市場不斷擴展，打開 MEMS 探針卡的市場空間，預計2024年全球MEMS 探針卡市場規模同比增長8.3%。
2019-2024年全球MEMS 探針卡市場規模及增速
資料來源：共研產業咨詢（共研網）
MEMS探針卡的結構設計使其能夠適應不同尺寸的探針卡，并通過氣動和調節結構實現快速且精確的測試，高針數和低刮痕率特點使其成為高密度晶圓測試的理想選擇，全球探針卡市場份額中，MEMS 探針卡占比超過一半。
全球MEMS 探針卡市場份額
資料來源：共研產業咨詢（共研網）
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