美國AMPTEK探測器

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     AMPTEK是一家成立于1977年的高科技公司，致力于設計并制造核檢測儀表，在該領域處于好的水平。公司建立之初是為現階段的空間儀表提供高性能、高穩定性、體積小以及低功耗的儀器和部件。隨后，公司的混合前置放大器成為航天工業的配置標準，并在全球范圍內用于地表衛星和外層空間探測器。AMPTEK已經開發出一系列產品如等離子分析器、電子離子探測器以及輻射監控器等。AMPTEK公司產品廣泛用于人造衛星、X射線和伽瑪射線的探測、實驗室、分析儀以及工業上的便攜式檢測儀器。

產品范圍：

美國AMPTEK探測器、AMPTEK X射線探測器、AMPTEK X射線光管、AMPTEK、AMPTEK等離子分析器、AMPTEK電子離子探測器、AMPTEK輻射監控器

主要型號：

XR-100CR Si-Pin、X-123 Si-Pin、XR-100SDD、X-123SDD、PA-210、PA-230、TB-5、DP5、DP5G、PX5、PX5-HPGe、MCA-8000D、A250、A225、A203、A121、A111、A101、A275、A206、A150、BLR1、PH300、A121、A101、A275、A206、A105

技術資料：

XR-100SDD 系列X 射線硅漂移探頭：

XR-100SDD 系列產品由新型高性能 X 射線硅漂移探頭，前置放大器（前放）和致冷系統組成。采用熱電致冷技術保持硅漂移探頭(SDD)的低溫工作環境，而在兩級熱電致冷器上 亦安裝了輸入場效應管(FET)和新型溫度反饋控制電路，這樣探頭組件的溫度保持在約零下 55 攝氏度左右，并通過組件上的溫度傳感器顯示實時溫度。探頭采用 TO-8 封裝，并利用不 透光和不透氣（真空封裝適用）的薄鈹(Be)窗以實現封裝后的軟 X 射線探測。XR-100SDD 系列產品無需采用昂貴的低溫制冷系統即可獲得非常優越的性能，它標志著 X 射線探測器生產技術上的一個突破。

產品特性：

1. 高計數率：500,000 CPS(每秒計數, counts per second)；

2. 能量分辨率：125eV（半高全寬，FWHM，對應峰值為 5.9keV 的情況）；

3. 高峰本比（Peak-to-background ratio）：8200:1； 4. 面積 25mm2，厚度 500μm；

5. 內置多層準直器；

6. 不需要液氮制冷。

應用范圍：

1. X 射線熒光分析；

2. 用于 RoHS/WEEE 標準檢測的 X 射線熒光譜儀；

3. OEM 和其他專業應用；

4. 生產工藝流程反饋控制；

5. 高校和科研院所實驗室研究；

XR-100SDD 型硅漂移探測器：

XR-100SDD 型硅漂移探測器（SDD）是 Amptek 公司出品的一款新型 X 射線探測器，它標志著 X 射線探測器生產工藝的變革。XR-100SDD 因其體積小，性能優越且價格便宜等特點，是 OEM 手持式和臺式X射線熒光譜儀設備的理想選擇；而且它在保證優異的能量分辨的同時還能達到相當高的計數率，可以滿足各種參數需求；另外封裝采用和Amptek 出品的 其他探測器一樣的T0-8 型外殼，方便用戶升級現有系統以及和其他Amptek 產品配套。

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