產品詳情
高溫試驗目的
高溫試驗箱恒溫實驗箱的目的是確定元件、設備或其他產品在高溫環境下使用、運輸或貯存的能力。高溫試驗能引發產品哪些故障。
功能失效：系統宕機、重啟、信號錯誤。
性能降級：運行速度變慢、輸出功率下降、信號失真。
物理損壞：
塑料外殼軟化、變形、熔化；
液晶顯示屏變黑、出現殘影；
電池鼓包、漏液，甚至有起火風險；
焊點融化或開裂；
元器件脫焊、損壞。
高溫試驗箱測試參數
高溫試驗應規定相應的試驗溫度和試驗持續時間，試驗溫度和試驗持續時間從下列數值中選取：
（1）試驗溫度：+30 ℃、+35 ℃、+40 ℃、+50 ℃、+55 ℃、+60 ℃、+65 ℃、+70 ℃、+85 ℃、+100 ℃、+125 ℃、+155 ℃、+175 ℃、+200 ℃、+250 ℃、+315 ℃、+400 ℃、+500 ℃、630 ℃、+800 ℃、+1000 ℃。
（2）持續時間：2 h、16 h、72 h、96 h、168 h、240 h、336 h、1000 h。
4、高溫試驗箱恒溫實驗箱項目
(高溫啟動試驗
受試產品在溫度開始穩定后對受試產品進行通電工作并運行正常。
示例：受試產品在+50℃條件下穩定2小時后，上電工作2小時，試驗箱恢復至常溫+25℃保持1小時，試驗期間的溫度變化速率為1℃/min。
高溫工作試驗
受試產品在整個低溫試驗期間連續通電工作并運行正常。
示例：受試產品在+50℃條件下，連續通電工作運行4小時,試驗期間的溫度變化速率為1℃/min。
高溫貯存試驗
受試產品在試驗期間不通電，試驗結束后通電測試功能。
示例：受試產品在+50℃條件下，斷電貯存24小時，試驗期間的溫度變化速率為1℃/min。
高溫試驗檢測結果判定
試驗期間或試驗后，受試產品功能性能是否發生改變，受試產品外觀是否發生異常。
高溫試驗基礎標準
GB/T 2423.2《電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫》。
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